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SPECTROLAB S 擁有世界上第一個基于CMOS的探測器的記錄系統，該系統非常適合于高端金屬分析。從微量元素到多基體應用，它提供了極其快速、高度準確、異常靈活的技術選擇。
在當今的金屬分析領域，精確度和效率是衡量設備性能的兩個關鍵指標。德國斯派克分析儀器公司推出的SPECTRO MAXx系列直讀光譜儀，憑借CMOS（互補金屬氧化物半導體）技術，正在重新定義金屬材料分析的標準。
在直讀光譜儀中分成CCD與COMS兩種類別的光譜儀，而觸及這一領域的人都知道，在直讀光譜儀中檢測部件十分的關鍵，而光譜儀檢測器鏡頭非常的重要，我們就來認識一下光譜儀檢測鏡頭中CMOS相比CCD的優勢。 · 信噪比CMOS信噪比低了將近100倍，所以檢出限比CCD低了非常多。CMOS噪聲相對CCD來說幾乎是沒有的，所以測樣的穩定性比CCD好很多 · 成本從成本角度來看，CCD相對于CMOS成本就要高出一截。 ·&nb
在直讀光譜儀中分成CCD與COMS兩種類別的光譜儀，而觸及這一領域的人都知道，在直讀光譜儀中檢測部件十分的關鍵，而光譜儀檢測器鏡頭非常的重要，我們就來認識一下光譜儀檢測鏡頭中CMOS相比CCD的優勢。 · 信噪比CMOS信噪比低了將近100倍，所以檢出限比CCD低了非常多。CMOS噪聲相對CCD來說幾乎是沒有的，所以測樣的穩定性比CCD好很多 · 成本從成本角度來看，CCD相對于CMOS成本就要高出一截。 ·&nb
高端金屬分析的真正革命 ——世界首臺CMOS探測器（互補金屬氧化物）的直讀光譜儀正式安裝日前，富士和機械工業（湖北）有限公司安裝了第一臺CMOS探測器的德國斯派克SPECTROLAB直讀光譜儀，為該司熔煉鑄造工藝保駕護航。
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